磁粉探傷検査 (MT)

 磁粉探傷検査(MT)とは、強磁性材料の表面近傍のきず検出に、もっとも適した探傷検査方法です。 

 表面および表面直下の比較的浅い部分に割れなどのきずがある試験体を磁化した場合、そのきずから磁束が漏洩し磁極が生じます。 そこへ、試験体表面に磁粉を散布すると、きず部分に磁粉が吸着し、きずが拡大され検出を容易にします。 

 表面きずの検出に有効な検査手法です。